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高低温PCIE老化柜

?性能指标符合以下标准：

GB/T 2423.22-2012  环境试验 第 2 部分：  试验方法 试验 N：  温度变化；

GB/T 2423.2-2008  电工电子产品环境试验 第 2 部分：  试验方法 试验 B：  高温。

4.1.14  设备需支持 SECS/GEM 协议

4.1.15 MTBA  (平均故障间隔周期)

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SSD固态硬盘快速温变测试机
?SSD固态硬盘快速温变测试机,SSD固态环境测试箱,SSD快速温变试验箱,ssd...

SSD高低温老化试验箱

?性能指标符合以下标准：

GB/T 2423.22-2012  环境试验 第 2 部分：  试验方法 试验 N：  温度变化；

GB/T 2423.2-2008  电工电子产品环境试验 第 2 部分：  试验方法 试验 B：  高温。

4.1.14  设备需支持 SECS/GEM 协议

4.1.15 MTBA  (平均故障间隔周期)

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