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温度冲击筛选应力的基本参数有温度上限，温度下限，在温度上限的停留时间，在温度下限的停留时间，温度转换时间和温度冲击循环次数。温度冲击中温度变化速率取决于受筛产品从一箱转入另一箱中的时间，转入另一箱中的那一时刻箱中受筛产品遇到的实际温度（由于打开箱门，此温度不是设定的上限或下限温度），以及此实际温度回到设定温度的时间。如果受筛产品转换很快，可将箱门打开后温度变化忽略不计，则此速率仅取决于转换时间和复温时间，自动倒换温度冲击箱就是这种情况。（2）特性分析
温度冲击这一方法能够提供较高的温度变化速率，产生的温度应力较大，是筛选元器件，特别是集成电路器件的有效方法。这一方法用于其他组装等级时，要注意其可能造成的附加损坏。此外，对产品通电和性能监测来说，温度冲击方法使用不方便，甚至不可能实现，以及及时发现故障。在缺乏具有足够速率的高低温箱的情况下，温度冲击方法是一种可行的替代方法。
